Güterverzeichnis für Produktionsstatistiken, Ausgabe 2009
Klassifikationsstruktur
Klassifikationsstruktur überspringen2651 45 200 Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen
Detailinformationen
Hauptgruppe: B (Investitionsgüterproduzenten)
Maßeinheit
St
Gegenüberstellung
gp2019a ⇄ gp2009v2012
gp2019a - gp2009v2012
| gp2019a | Inhalt | gp2009v2012 | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Typ | Schlüssel | Titel | Typ | Schlüssel | Titel | |
| 2651 45 002 | Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (Wafers) oder Halbleiterbauelementen | 2651 45 200 | Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen | |||
gp2009v2012 ⇄ gp2002
gp2009v2012 - gp2002
| gp2009v2012 | Inhalt | gp2002 | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Typ | Schlüssel | Titel | Typ | Schlüssel | Titel | |
| 2651 45 200 | Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen | 3320 45 200 | Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterelementen | |||
gp2009v2012 ⇄ wz2008
gp2009v2012 - wz2008
| gp2009v2012 | Inhalt | wz2008 | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Typ | Schlüssel | Titel | Typ | Schlüssel | Titel | |
| 2651 45 200 | Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen | ex | 26.51.1 | Herstellung von elektrischen Mess-, Kontroll-, Navigations- u. ä. Instrumenten und Vorrichtungen | ||
gp2009v2012 ⇄ gp2009
gp2009v2012 - gp2009
| gp2009v2012 | Inhalt | gp2009 | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Typ | Schlüssel | Titel | Typ | Schlüssel | Titel | |
| 2651 45 200 | Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen | 2651 45 200 | Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen | |||
Stichwörter
- Geräte, zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben, Wafern oder Halbleiterelementen
- Halbleiterelementprüf- und -messgeräte
- Halbleiterscheiben (wafers) - Prüf- und Messgeräte
- Messgeräte für Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterelemente
- Prüfgeräte für Halbleiterscheiben (wafers) und Halbleiterelemente
Langtitel
Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen
Ebene
Ebene 8: Güterart
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