Produktklassifikationen Güterverzeichnis für Produktionsstatistiken

Güterverzeichnis für Produktionsstatistiken, Ausgabe 2019

Klassifikationsstruktur

2670 24 909 Belichtungsmesser, Stroboskope; Instr., App. u.Geräte zum Prüfen von Halbleiterscheiben (Wafers) oder Halbleiterbauelementen o. z. Prüfen von Fotomasken und Reticles für die H. v. Halbleiterbauelementen; Profilprojektoren u.a. opt. IAG z. Messen o. Prüfen

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Hauptgruppe: B (Investitionsgüterproduzenten)

Maßeinheit

Gegenüberstellung

wz2025 ⇄ gp2019a

wz2025			Inhalt	gp2019a
Typ	Schlüssel	Titel		Typ	Schlüssel	Titel
	26.70.1	Herstellung von optischen und fotografischen Instrumenten und Geräten			2670 24 909	Belichtungsmesser, Stroboskope; Instr., App. u.Geräte zum Prüfen von Halbleiterscheiben (Wafers) oder Halbleiterbauelementen o. z. Prüfen von Fotomasken und Reticles für die H. v. Halbleiterbauelementen; Profilprojektoren u.a. opt. IAG z. Messen o. Prüfen

wz2008 ⇄ gp2019a

wz2008			Inhalt	gp2019a
Typ	Schlüssel	Titel		Typ	Schlüssel	Titel
	26.70.0	Herstellung von optischen und fotografischen Instrumenten und Geräten	Belichtungsmesser, Stroboskope; Instr., App. u.Geräte zum Prüfen von Halbleiterscheiben (Wafers) oder Halbleiterbauelementen o. z. Prüfen von Fotomasken und Reticles für die H. v. Halbleiterbauelementen; Profilprojektoren u.a. opt. IAG z. Messen o. Prüfen		2670 24 909	Belichtungsmesser, Stroboskope; Instr., App. u.Geräte zum Prüfen von Halbleiterscheiben (Wafers) oder Halbleiterbauelementen o. z. Prüfen von Fotomasken und Reticles für die H. v. Halbleiterbauelementen; Profilprojektoren u.a. opt. IAG z. Messen o. Prüfen

gp_2026 ⇄ gp2019a

gp_2026			Inhalt	gp2019a
Typ	Schlüssel	Titel		Typ	Schlüssel	Titel
	2670 24 909	Belichtungsmesser, Stroboskope, optische Instrumente, Geräte und Maschinen zur Prüfung von Halbleiterscheiben oder -bauelementen (einschließlich integrierter Schaltkreise) oder zur Prüfung von Fotomasken oder Retikeln, die bei der Herstellung von Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltkreise) verwendet werden, Profilprojektoren und andere optische Instrumente, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen	Belichtungsmesser, Stroboskope, optische Instrumente, Geräte und Maschinen zur Prüfung von Halbleiterscheiben oder -bauelementen (einschließlich integrierter Schaltkreise) oder zur Prüfung von Fotomasken oder Retikeln, die bei der Herstellung von Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltkreise) verwendet werden, Profilprojektoren und andere optische Instrumente, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen		2670 24 909	Belichtungsmesser, Stroboskope; Instr., App. u.Geräte zum Prüfen von Halbleiterscheiben (Wafers) oder Halbleiterbauelementen o. z. Prüfen von Fotomasken und Reticles für die H. v. Halbleiterbauelementen; Profilprojektoren u.a. opt. IAG z. Messen o. Prüfen

gp2019a ⇄ gp2009v2012

gp2019a			gp2009v2012
Typ	Schlüssel	Titel	Typ	Schlüssel	Titel
ex	2670 24 909	Belichtungsmesser, Stroboskope; Instr., App. u.Geräte zum Prüfen von Halbleiterscheiben (Wafers) oder Halbleiterbauelementen o. z. Prüfen von Fotomasken und Reticles für die H. v. Halbleiterbauelementen; Profilprojektoren u.a. opt. IAG z. Messen o. Prüfen		2651 64 700	Stroboskope
ex	2670 24 909	Belichtungsmesser, Stroboskope; Instr., App. u.Geräte zum Prüfen von Halbleiterscheiben (Wafers) oder Halbleiterbauelementen o. z. Prüfen von Fotomasken und Reticles für die H. v. Halbleiterbauelementen; Profilprojektoren u.a. opt. IAG z. Messen o. Prüfen		2651 66 308	Andere optische Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen, a.n.g. (ohne solche für Kraftfahrzeuge), z.B. Profilprojektoren
ex	2670 24 909	Belichtungsmesser, Stroboskope; Instr., App. u.Geräte zum Prüfen von Halbleiterscheiben (Wafers) oder Halbleiterbauelementen o. z. Prüfen von Fotomasken und Reticles für die H. v. Halbleiterbauelementen; Profilprojektoren u.a. opt. IAG z. Messen o. Prüfen	ex	2651 53 900	Andere Instrumente, Apparate und Geräte für physikalische oder chemische Untersuchungen, a.n.g.

Stichwörter

Ampullenprüfmaschinen, mechanisch, mit optischer Vorrichtung
Apparate, nicht elektronisch, zum Messen physikalischer Eigenschaften von Halbleitermaterial oder damit verbundenen isolierenden oder leitfähigen Schichten während der Herstellung von Wafern
Autolensometer, Scheitelbrechwert- Messgerät
Bahnbeobachtungssysteme
Banknotenlesegeräte, bestehend aus einem Banknotenakzeptor mit Banknoteneinzugsvorrichtung und Sensorik, zum Einbau in Geldspielgeräte, Geldwechselautomaten und Warenverkaufsautomaten
Banknotenlesegeräte, mit Fotosensoren
Banknotenlesegeräte, zum optischen Prüfen von Geldscheinen
Belichtungsmesser, Geräte für fotometrische Messungen
Belichtungsmesser, Scannerbaugruppen
Belichtungssteuergeräte
Belichtungszeitrechner
Berührungslose Bestückungs- und Vollständigkeitskontrollen, mit Kamerasystemen
CCD-Mikrometer, optisches Messgerät, für Durchmessen von Breiten
Distanzmessgeräte
Dämpfungsmessgeräte, nicht für Fernmeldetechnik
Encoder, zum Überwachen von Motoren, optisches Messgerät
Endoskope, für technische Zwecke
Faserlängenprüfgeräte, optische Messgeräte
Fluchtfernrohre für Geländeeinmessungen
Fluchtlaser für Gebäudeeinmessungen
Fokussiergerät für Objektive
Furnierpaketvermessungsanlage, optisch arbeitend
Füllgutkontrollsysteme, mit CCD-Kamera, Colorvision
Geldschein-Echtheitsprüfgeräte, optisch, für Banken und Wechselstuben
Geldscheinprüfvorrichtungen, optisch, für Geldspielgeräte
Geräte, optisch, zum Messen von Oberflächenpartverunreinigung von Wafern
Geräte, optisch, zum Prüfen von Linienbreiten auf Wafern
Geräte, zum Prüfen der Beschriftung von Wafern, optisch
Gerätesysteme, zum optischen Messen von Strukturen der Schaltungsmuster von Halbleiterbauelementen
Industrieproduktprüfgeräte
Interferenzgeräte, optische Messinstrumente
Justiergeräte, optische Messinstrumente
Komparatoren, Profilprojektoren
Laser-Abstandsensor, zum Messen von geometrischen Größen
Laser-Scan-Mikrometer, optisches Messgerät
Laserkameras, optische Geräte zum Messen von Abständen
Lasermikrometer, optisch, nicht für den Handgebrauch, für die Produktionskontrolle
Laserwegmesssenor, zur Abstandsmessung
Laserwegmesssensor, zum optischen Messen von Abständen
Lensometer, Scheitelbrechwert- Messgerät
Lichtblitzstroboscope, Gerät zum Messen oder Prüfen
Lichtdosiergeräte
Lichtmessgeräte, Belichtungsmesser
Messgeräte, für Bohrmaschinen und Fräswerke
Messlupen
Mikrolupen, zur Korngrößenmessung
Mikrometer, Laser-Scan, optisches Messgerät
Optische Geräte, sog. Wafer-Defect-Inspections-Systeme
Optische Geräte, zum Messen der Menge und Lage von Wafern in Kassetten
Optische Geräte, zum Messen oder Prüfen der Übertragungsqualität einer Lichtwelle
Optische Geräte, zum Messen von Geschwindigkeit, Beschleunigung, Rotation
Optische Geräte, zum Prüfen der Beschriftung von Wafern
Optische Geräte, zum Prüfen von CD´s, MD´s, CD-ROM´s
Optische Geräte, zum Prüfen von Halbleiterbauelementen
Optische Geräte, zum Prüfen von Halbleiterscheiben
Optische Geräte, zum Prüfen von Linienbreiten auf Wafern
Positionier-/Wegmesssensor, optisch, zur Abstandsmessung
Profilprojektoren
Reflektometer, mit Laserlichtquelle
Regiflexkontrollmaschinen für Druckzylinder
Scheitelbrechwert-Messgerät, Autolensometer
Scheitelbrechwertmesser, ohne solche die UV-Strahlen, sichtbares Licht oder Infrarotstrahlen verwenden
Stroboskope
TV-Inspektionssysteme, mit Kamerawagen, für Rohrsysteme
Tabletteninspektionsmaschinen, videooptisch, zur Prüfung von Tabletten hinsichtlich ihrer Größe, Aufprägung, Färbung usw.
Untersuchungsgeräte, für Biochips, nicht elektronisch
Video-Endoskop, zum Messen oder Prüfen, für die visuale Inspektion
Video-Prüfeinrichten, optische Geräte zur Prüfung von Dichtelementen
Wafer-Dickenmeßgeräte, elektronisch, mit Positioniervorrichtung, mit optischen Verfahren arbeitend
Wafer-Metallbahnbreitenmeßgeräte, mit optischen Messverfahren arbeitend
Wafer-Oberflächenmessgeräte, mit optischen Verfahren arbeitend
Waferinspektionssysteme, optische Geräte zur Erkennung von visuellen Oberflächen
Warnsensor, zum Vermessen, Erfassen, Klassifizieren mit Laser
Wegmess-/Postioniersensor, optisch, zur Abstandsmessung
Wellenlängenstabilisatoren, optische Geräte zur Überwachung der Wellenlänge
Werkzeugeinstellgeräte mit optischem Schneidenabtaster
Wälzfräsermessmaschinen, mit optischer Vorrichtung
Zahnschrägenprüfgeräte, mechanisch
Zentrierfernrohre, nicht für Maschinen

Langtitel

Belichtungsmesser, Stroboskope; Instr., App. u.Geräte zum Prüfen von Halbleiterscheiben (Wafers) oder Halbleiterbauelementen o. z. Prüfen von Fotomasken und Reticles für die H. v. Halbleiterbauelementen; Profilprojektoren u.a. opt. IAG z. Messen o. Prüfen

Ebene

Ebene 8: Güterart