Product Classification for Production Statistics, issue 2019
Classification Structure
Skip classification structure2670 24 909 Belichtungsmesser, Stroboskope; Instr., App. u.Geräte zum Prüfen von Halbleiterscheiben (Wafers) oder Halbleiterbauelementen o. z. Prüfen von Fotomasken und Reticles für die H. v. Halbleiterbauelementen; Profilprojektoren u.a. opt. IAG z. Messen o. Prüfen
Details
Hauptgruppe: B (Investitionsgüterproduzenten)
Unit of Measurement
St
Correspondence
wz2025 ⇄ gp2019a
wz2025 - gp2019a
| wz2025 | Content | gp2019a | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Typ | Key | Title | Typ | Key | Title | |
| 26.70.1 | Manufacture of optical instruments and photographic equipment | 2670 24 909 | Belichtungsmesser, Stroboskope; Instr., App. u.Geräte zum Prüfen von Halbleiterscheiben (Wafers) oder Halbleiterbauelementen o. z. Prüfen von Fotomasken und Reticles für die H. v. Halbleiterbauelementen; Profilprojektoren u.a. opt. IAG z. Messen o. Prüfen | |||
wz2008 ⇄ gp2019a
wz2008 - gp2019a
| wz2008 | Content | gp2019a | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Typ | Key | Title | Typ | Key | Title | |
| 26.70.0 | Manufacture of optical instruments and photographic equipment | ► DE | 2670 24 909 | Belichtungsmesser, Stroboskope; Instr., App. u.Geräte zum Prüfen von Halbleiterscheiben (Wafers) oder Halbleiterbauelementen o. z. Prüfen von Fotomasken und Reticles für die H. v. Halbleiterbauelementen; Profilprojektoren u.a. opt. IAG z. Messen o. Prüfen | ||
gp_2026 ⇄ gp2019a
gp_2026 - gp2019a
| gp_2026 | Content | gp2019a | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Typ | Key | Title | Typ | Key | Title | |
| 2670 24 909 | Belichtungsmesser, Stroboskope, optische Instrumente, Geräte und Maschinen zur Prüfung von Halbleiterscheiben oder -bauelementen (einschließlich integrierter Schaltkreise) oder zur Prüfung von Fotomasken oder Retikeln, die bei der Herstellung von Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltkreise) verwendet werden, Profilprojektoren und andere optische Instrumente, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen | ► DE | 2670 24 909 | Belichtungsmesser, Stroboskope; Instr., App. u.Geräte zum Prüfen von Halbleiterscheiben (Wafers) oder Halbleiterbauelementen o. z. Prüfen von Fotomasken und Reticles für die H. v. Halbleiterbauelementen; Profilprojektoren u.a. opt. IAG z. Messen o. Prüfen | ||
Keywords
- Belichtungsmesser, Stroboskope; Instr., App. u.Geräte zum Prüfen von Halbleiterscheiben (Wafers) oder Halbleiterbauelementen o. z. Prüfen von Fotomasken und Reticles für die H. v. Halbleiterbauelementen; Profilprojektoren u.a. opt. IAG z. Messen o. Prüfen
Long Title
Belichtungsmesser, Stroboskope; Instr., App. u.Geräte zum Prüfen von Halbleiterscheiben (Wafers) oder Halbleiterbauelementen o. z. Prüfen von Fotomasken und Reticles für die H. v. Halbleiterbauelementen; Profilprojektoren u.a. opt. IAG z. Messen o. Prüfen
Level
Level 8: ► DE
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