Product Classification for Production Statistics, issue 2026
Classification Structure
Skip classification structure2651 49 010 Instrumente und Apparate zum Messen oder Prüfen von Halbleiterwafern oder -geräten, einschließlich integrierter Schaltkreise
Details
Unit of Measurement
St
Correspondence
wz2008 ⇄ gp_2026
wz2008 - gp_2026
| wz2008 | Content | gp_2026 | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Typ | Key | Title | Typ | Key | Title | |
| 26.51.1 | Manufacture of electric instruments and appliances for measuring, testing and navigation | ► DE | 2651 49 010 | Instrumente und Apparate zum Messen oder Prüfen von Halbleiterwafern oder -geräten, einschließlich integrierter Schaltkreise | ||
gp_2026 ⇄ gp2019a
gp_2026 - gp2019a
| gp_2026 | Content | gp2019a | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Typ | Key | Title | Typ | Key | Title | |
| 2651 49 010 | Instrumente und Apparate zum Messen oder Prüfen von Halbleiterwafern oder -geräten, einschließlich integrierter Schaltkreise | ► DE | 2651 45 002 | Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (Wafers) oder Halbleiterbauelementen | ||
Keywords
- Instrumente und Apparate zum Messen oder Prüfen von Halbleiterwafern oder -geräten, einschließlich integrierter Schaltkreise
Level
Level 7: ► DE
© Statistische Ämter des Bundes und der Länder
This file was generated automatically. No liability is assumed for the accuracy of the content. If you need a legally binding expression, we would like to refer you to the publications of the Statistical Association.