Product Classification for Production Statistics, issue 2026
Classification Structure
Skip classification structure2670 26 300 Teile und Zubehör für Instrumente, Apparate und Geräte zum Prüfen von Halbleiterscheiben und für andere Instrumente, Apparate, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen, optisch
Details
Unit of Measurement
EUR
Correspondence
wz2008 ⇄ gp_2026
wz2008 - gp_2026
| wz2008 | Content | gp_2026 | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Typ | Key | Title | Typ | Key | Title | |
| 26.70.0 | Manufacture of optical instruments and photographic equipment | ► DE | 2670 26 300 | Teile und Zubehör für Instrumente, Apparate und Geräte zum Prüfen von Halbleiterscheiben und für andere Instrumente, Apparate, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen, optisch | ||
gp_2026 ⇄ gp2019a
gp_2026 - gp2019a
| gp_2026 | Content | gp2019a | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Typ | Key | Title | Typ | Key | Title | |
| 2670 26 300 | Teile und Zubehör für Instrumente, Apparate und Geräte zum Prüfen von Halbleiterscheiben und für andere Instrumente, Apparate, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen, optisch | ► DE | 2670 26 300 | für and. Instr., App. u. Geräte zum Messen o. Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) o. Halbleiterbauelementen o. zum Prüfen von Fotomasken o. Reticles für die Herstellung von Halbleiterbauelementen sowie für andere optische Instr., App. u. Geräte, a.n.g. | ||
Keywords
- Teile und Zubehör für Instrumente, Apparate und Geräte zum Prüfen von Halbleiterscheiben und für andere Instrumente, Apparate, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen, optisch
Level
Level 7: ► DE
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